Das FT-NIR-Spektrometer Sinis FT von Siemens A&D verwendet einen rotierenden Retroreflektor, mit dem Daten auch unter schwierigen Umgebungsbedingungen schnell und sicher per Interferogramm dargestellt werden können. Das durchgesendete Licht wird so umgelenkt, dass zwei Lichtstrahlen den asymmetrisch rotierenden Retroreflektor passieren. Dabei entstehen zwei unterschiedliche Strahllängen, deren Differenz gemessen wird. Die so gewonnen Daten werden mit einer mathematischen Rechenoperation, der Fast-Fourier-Transformation, zu einem Interferogramm aufbereitet. Die permanent justierte Optik wurde speziell für den Prozesseinsatz entwickelt und bietet eine sichere und schnelle Datenerfassung. Dadurch eignet sich das Gerät zur Verfolgung von chemischen Produktionsprozessen sowie zur Klassifizierung und Qualitätskontrolle von Polymeren. Die kompakte 19”-Modulbauweise begünstigt eine einfache Wartung und den Einbau in standardisierte Industrieschränke. Sinis FT ist mit allen gängigen faseroptischen Zubehören kompatibel und verfügt zur Fernbedienung über einen Ethernet-Anschluss.
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