14.05.24 | 10:00 Uhr |
Egal ob serielle Flashes (eMMC, I²C, SPI), parallele…
Mehr Details Egal ob serielle Flashes (eMMC, I²C, SPI), parallele…
Während früher auf statische Tests fokussiert wurde, sind heute vor allem dynamische Tests gefordert. Eine neue Technologie ermöglicht die genaue Abbildung der Testbereiche.
Dieses…