Indirekte Messmethode zur Erfassung der Mikrogeometrie einer Oberfläche unter Nutzung des formalen Zusammenhangs des Reflexionsgrades
mit L1 = einfließende Lichtmenge, L2 = reflektierte Lichtmenge, K = Glanz- oder Reflexionsgrad, indem die jeweilige zu prüfende Oberfläche als Reflexionselement dient, auf welche L1 unter einem Einstrahlwinkel α auftritt und nach den Gesetzen der Totalreflexion der ausströmende (reflektierte) Lichtstrahl die Intensität L2 darstellt. Die Differenz L1-L2 entspricht dem Diffusions- oder Streulichtanteil aus der mikrogeometrisch bedingten Streulichtwirkung.
Eine apparative Ausführung eines Reflexionsmessgerätes ist z. B. der Lange-Reflektometer oder auch in ähnlicher Funktionswirkung der Henkel Rougingmonitor (Rouging) zur Bestimmung der Rougeentwicklung auf einer Edelstahloberfläche.
Messtechnisch wird das Reflexionsmessgerät zur Kalibrierung auf einen hochglanzpolierten Stahlspiegel aufgesetzt, die Messung durch den Einstrahllichtstrahl ausgelöst und der reflektierte Lichtstrahl L2 vom Gerät gemessen und sodann der K-Wert im Display angezeigt. Für hochglanzpolierte Oberflächen mit einem Ra-Wert (Roughness Average) < 0,05 µm liegt der Reflexionswert K bei ca. 88 % (siehe auch Tab. R 2).
Die Messung auf zu prüfenden Oberflächen von Bauteilen aus austenitischen Edelstahllegierungen erfolgt analog der o. g. Kalibrierungsmessung.
Reflexionsmessungen können also als statistische Stichprobenprüfungen die Ra-Prüfung ergänzen bzw. ersetzen und beurteilen i. Allg. merklich größere Flächenbereiche als lineare Rauheitsprüfungen.
| Oberfläche | Reflexionsgrad |
| IIIc Blech, gebeizt, Ra = 0,4 µm | ~ 15 % |
| K 180 geschliffen, Ra = 0,5 µm | ~ 20 % |
| K 360 geschliffen, Ra = 0,25 µm | ~ 40 % |
| K 180 geschliffen + elektrochemisch poliert, Ra = 0,3 µm | ~ 50 % |
| K 360 geschliffen + elektrochemisch poliert, Ra = 0,2 µm | ~ 60 % |
© 2013 – ECV – Lexikon der Pharmatechnologie
