In-situ-Partikelcharakterisierung

Die PVM-V825-Ex-Technologie von Mettler Toledo ermöglicht die Anzeige und Aufzeichnung von Partikelsystembildern in Atex- und Prozessumgebungen in Echtzeit. Die Technologie liefert eine detaillierte Analyse komplexer Partikelsysteme. PVM V825 Ex wurde speziell für die Bereitstellung dieser Bilder in Atex-Umgebungen entwickelt und sorgt dafür, dass keine Proben aus dem Prozess entnommen werden müssen. PVM (Particle Vision and Measurement) wird zur beschleunigten Untersuchung von Veränderungen der Partikelgröße, Tröpfchenbildung, Form und Morphologie verwendet. Ereignisse wie Fällung, Bildung, Verschmelzung oder Bruch sowie die Prozessparameter, die zu diesen Ereignissen geführt haben, können umgehend identifiziert werden. Die Software zur Bildanalyse in Echtzeit kann zur Messung der Partikelgröße bzw. des Partikelverhältnisses verwendet werden. Diese wichtigen Daten können dann zur Entwicklung eines robusteren Prozesses für eine höhere Produktqualität genutzt werden. PVM V825 Ex ist für die Tauchrohr- oder Pipeline-Montage vorgesehen. Die Spülung des Gehäuses gewährleistet eine eigensichere Sonde.

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