Die technische Weiterentwicklung von REM/EDX-Analysengeräten (Rasterelektronenmikroskopie/Energiedispersive Röntgenanalytik) erlaubt neben EDX-Punktanalysen zwischenzeitlich auch EDX-Linienanalysen auf der Probenoberfläche. Dies ist besonders bei lokalen Gefügeunterschieden sehr hilfreich, da die strukturellen bzw. elementaren Unterschiede von verschiedenen Gefügephasen über den Linienscan durch die verschiedenen Gefügephasen sehr anschaulich verfolgt werden können (Abb. L 5).
Abb. L 5: EDX-Linienscan. (Quelle: G. Henkel)
© 2013 – ECV – Lexikon der Pharmatechnologie
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