Die Analysenplattform Projekt Scio von Rockwell ermöglicht in einer industriellen Fertigung erweiterte Analysen, indem sie die Daten aus nahezu allen bestehenden Quellen eines Unternehmens sammelt und zusammenführt. Im Einzelnen können Ad-hoc- sowie erweiterte Analysen erstellt, gesammelte Daten in leicht verständlichen Übersichten dargestellt und Datenquellen durch maschinelles Lernen ergänzt werden. Mit der skalierbaren und offenen Plattform erhalten Mitarbeiter einen sicheren, personenbezogenen Zugriff auf alle Datenquellen. Die Plattform erkennt automatisch Geräte und Tags des Herstellers sowie Daten von Drittanbietergeräten und gewährt auch Zugriff auf Informationen über Gerätename und Standort innerhalb einer Produktionslinie oder Anlage. Die Plattform lässt sich für verschiedene branchenführende Algorithmen des maschinellen Lernens (ML) konfigurieren. Steuerungen lassen sich durch geschlossene Regelkreisanalysen optimieren.
Suchwort: cav0618rockwell
Halle 11.1, Stand E27
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