Bei der Entwicklung des energiedispersiven Röntgenfluoreszenz-Spektrometers XEPOS standen zwei für den Anwender wichtige Gesichtspunkte im Vordergrund, zum einen die simultane Bestimmung aller Elemente von Natrium bis Uran, zum anderen der empfindliche Nachweis „leichter“ Elemente von Natrium bis Eisen. Damit ist dieses Röntgenfluoreszenz-Spektrometer besonders geeignet für die Übersichtsanalyse von flüssigen und festen Abfällen wie Bauschutt, Böden oder Schlämmen, aber auch für die präzise Analyse von Additiven in Ölen oder für die Hauptkomponentenanalyse von Keramiken, Feuerfestmaterialien, Tonsorten, Sanden, Kalkstein oder Dolomit sowie Zement und Schlacken.
Zwei für die Röntgenfluoreszenz neue Technologien werden in XEPOS eingesetzt: eine Si-Driftkammer zur Detektion der Fluoreszenzstrahlung und eine Polarisationsoptik. Die Vorteile dieser Technik sind eine bessere Energieauflösung und eine höhere Impulsbelastbarkeit.
Das Benchtop-Gerät ist mit dem bewährten Programmpaket X-LABPRO ausgestattet. Dieses Programmpaket ermöglicht eine vollautomatische Analyse einschließlich der Steuerung von Proben- und Targetwechsler, Vakuumpumpe oder Gasspülung und Röntgengenerator.
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