Siehe auch: Topographie, Rasterelektronenmikroskopie.
Zerstörungsfreie Analyse von technischen Oberflächen.
Zur analytischen Beurteilung z. B. von austenitischen Edelstahloberflächen, Oberflächenbereichen mit Korrosionsschadstellen bzw. metallographischen Schliffbereichen werden zur visuellen Prüfung mit Vergrößerungen bis 1.000-fach meist Lichtmikroskope (Stereomikroskope) und darüber Rasterelektronenmikroskope (REM) verwendet, wobei stets das Auflichtverfahren angewendet wird.
Bei lichtmikroskopischen Prüfungen kann der Einsatz polarisierten Lichtes bzw. die Verwendung verschiedener Lichtfilter hilfreich sein.
Nachteilig beim Lichtmikroskop gegenüber dem REM ist die deutlich reduzierte Tiefenschärfe.
Durch entsprechende Entwicklungen der Mikroskophersteller (z. B. computerunterstützte Bildauswertung) sind jedoch in den letzten Jahren lichtmikroskopische Prüfverfahren für Edelstahloberflächen zunehmend qualitätsverbessert worden und in den meisten Fällen hinsichtlich der benötigten Oberflächenbeurteilungen / Korrosionsbeurteilungen (Korrosion) ausreichend.
© 2013 – ECV – Lexikon der Pharmatechnologie
