Haftung von ionischen oder partikulären Substanzen an festen Oberflächen.
Die Haftung eines Partikels an einer festen Oberfläche hängt ab von der
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Haftspannung σ und der
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(gemeinsamen) Haftfläche A.
Die Haftspannung hängt von den wirkenden Kontaktkräften (Haftkräften) ab, wie z. B. von Van-der-Waals-Kräften oder elektrostatischen Kräften.
Die Haftkraftwirkung W ergibt sich als W = σ x A, mit A = effektive Berührungsfläche zwischen Partikel und Wand.
Die experimentelle Ermittlung von W erfolgt beispielsweise durch Atomic Microscopic Force; die Ermittlung von A erfolgt über Abschätzungen der wahren Topographie der Wandfläche und der Partikelgröße.
Abb. O 1: Schematische Darstellung der tatsächlichen Belegungsflächen der Oberfläche bei Partikelkontakt. (Quelle: G. Henkel)
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